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CPO、矽光子測試需求升溫 光電熱整合成競爭關鍵

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曾任職於IBM和創投業的畢馬威財務諮詢(KPMG)董事總經理陳傑曦表示,隨著晶片功耗、傳輸速度與架構複雜度同步攀升,測試已由出貨前的品質把關,提前至產品開發與量產導入階段,並成為左右客戶認證、良率爬升...

原文連結:DIGITIMES 科技

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