第26屆全國 AOI 論壇 工研院攜產學研聚焦先進半導體、矽光子智慧檢測

人工智慧（AI）加速進入產品製造產線，面對先進半導體、矽光子等高精度製程對缺陷檢測與量測準確度的要求提升，傳統自動光學檢測（AOI）正結合AI判讀、創新光學設計及邊緣高速運算，擴大智慧檢測的應用範圍...

原文連結：UDN 產經